Source: Moscow Institute of Physics and Technology – Московский физико-технический институт –
Физтех-школа электроники, фотоники и молекулярной физики 20 и 21 ноября в режиме видеоконференцсвязи проведет открытую научную школу по методам синхротронных исследований для изучения и контроля свойств материалов и устройств микроэлектроники.
Предлагаемый курс предназначен для студентов магистратуры, аспирантов и специалистов в области физики конденсированного состояния, микроэлектроники и физической электроники.
Участие в занятиях свободное и бесплатное. О желании принять участие нужно сообщить по e-mail SynchroRadiationSchool@yandex.ru.
Программа научной школы направлена на формирование у слушателей представления о возможностях использования синхротронного излучения в области исследований материалов и функциональных структур микроэлектроники.
Участники также ознакомятся с научными результатами последних лет, полученными на источниках синхротронного излучения. Отдельное внимание будет уделено вопросам метрологического обеспечения синхротронных методов и применению синхротронного источника для метрологии детекторов и источников излучения в области вакуумного ультрафиолета.
Программа школы
20 ноября
Ссылка для подключения: https://telemost.yandex.ru/j/83353979811782195746786363580480977692
14:00 — Батурин Андрей Сергеевич: «Синхротронное излучение для обеспечения единства измерений параметров оптического излучения ультрафиолетового и рентгеновского диапазонов спектра».
15:00 — Чуприк Анастасия Александровна: «Синхротронное излучение для operando измерений параметров функциональных тонких электронных структур».
16:00 — Зенкевич Андрей Владимирович: «Исследование прототипов инновационных устройств энергонезависимой памяти спектроскопическими методами на синхротронных источниках».
17:00 — Токунов Юрий Матвеевич: «Метрологическое обеспечение дифракционных методов с использованием синхротронного излучения».
21 ноября
Ссылка для подключения:
https://telemost.yandex.ru/j/46195098645215740408345863086874883003
14:00 – Якунин Сергей Николаевич: «Поверхностно-чувствительные синхротронные методы в исследовании тонкопленочных слоистых систем».
15:00 — Чижов Павел Сергеевич: «Дифракционные методы в электронике».
16:00 — Николаев Константин Владимирович: «Рентгеновская метрология для электроники».
17:00 — Витухновский Алексей Григорьевич: «Двухфотонная фотополимеризация для изготовления рентгеновских оптических приборов».
Обратите внимание; Эта информация является необработанным контентом непосредственно из источника информации. Это точно соответствует тому, что утверждает источник, и не отражает позицию MIL-OSI или ее клиентов.
Please note; This information is raw content directly from the information source. It is accurate to what the source is stating and does not reflect the position of MIL-OSI or its clients.